Volframfilamendi skaneeriv elektronmikroskoop, Eco. SEM, 15x ~ 250000x

A63.7062

15x ~ 25000x volframfilamendi skaneeriv elektronmikroskoop, Std. SEM

Täiendatav LaB6, röntgendetektor, EBSD, CL, WDS, katmismasin jms.

Mitme modifikatsiooniga EBL, STM, AFTM, Heatign Stage, Cryo Stage, tõmbetapp, SEM + Laser jne.

Automaatne kalibreerimine, automaatne vigane tuvastamine, madalad hooldus- ja remondikulud

Lihtne ja sõbralik tööliides, mida kõiki haldab hiir Windowsi süsteemis

Minimaalne tellimiskogus:1

Toote detail

Tootekirjeldus

A63.7062 Volframfilament Skaneeriv elektronmikroskoop, Eco. SEM
Resolutsioon	4,5 nm @ 30 kV (SE); 6nm @ 30KV (BSE)
Suurendus	Negatiivne suurendus: 15x ~ 250000x; Ekraani suurendus: 30x ~ 500000x
Elektronpüstol	Volframsoojendatud katoodi eelkeskne volframfilamentkassett
Kiirendav pinge	0 ~ 30KV
Läätsesüsteem	Kolmetasandiline elektromagnetiline objektiiv (kitsenev objektiiv)
Objektiivne ava	Molübdeeniava reguleeritav välimine vaakumsüsteem
Proovi etapp	Viie telje lava
Reisivahemik	X (automaatne)	0 ~ 50mm
Y (automaatne)	0 ~ 50mm
Z (käsitsi)	0 ~ 25mm
R (käsitsi)	360o
T (käsitsi)	-5o ~ 90o
Proovi maksimaalne läbimõõt	150mm
Detektor	SE: kõrgvaakumiga sekundaarelektronidetektor (detektorikaitsega)
Muutmine	Etapi uuendamine; EBL; STM; AFM; Kuumutusetapp; Krüo staadium; Tõmbetapp; Mikro-nano-manipulaator; SEM + kattemasin; SEM + Laser
Aksessuaarid	CCD, LaB6, röntgendetektor (EDS), EBSD, CL, WDS, katmismasin
Vaakumsüsteem	Turbo molekulaarsed pumbad; pöörlemispump
Elektronkiire vool	10pA ~ 0,1