A63.7080 Schottky väljaheitepüstoli skaneeriv elektronmikroskoob Std FEG SEM, 15x ~ 500000x
| A63.7080 Schottky väljaheitepüstol Skaneeriv elektronmikroskoop Pro FEG SEM | ||
| Resolutsioon | 1,5nm@15KV (SE); 3nm @ 20KV (BSE) | |
| Suurendus | 15x ~ 500000x | |
| Elektronpüstol | Schottky kiirgusega elektronpüstol | |
| Elektronkiire vool | 10pA ~ 0,3μA | |
| Vootage'i kiirendamine | 0 ~ 30KV | |
| Vaakumsüsteem | 2 ioonpumpa, turbomolekulaarne pump, mehaaniline pump | |
| Detektor | SE: Kõrgvaakumiga sekundaarelektronidetektor (detektorikaitsega) | |
| BSE: pooljuhtide nelja segmendiga tagumise hajumise detektor | ||
| CCD | ||
| Proovi etapp | Viie telje eukentriline mootorlava | |
| Reisivahemik | X | 0 ~ 80mm |
| Y | 0 ~ 50mm | |
| Z | 0 ~ 30mm | |
| R | 360º | |
| T | -5º ~ 70º | |
| Proovi maksimaalne läbimõõt | 175mm | |
| Muutmine | EBL; STM; AFM; Kuumutusetapp; Krüo staadium; Tõmbetapp; Mikro-nano-manipulaator; SEM + kattemasin; SEM + Laser jne. | |
| Aksessuaarid | Röntgendetektor (EDS), EBSD, CL, WDS, katmismasin jne | |
Skaneeriv elektronmikroskoopia (sem) sobib metallide, keraamika, pooljuhtide, mineraalide, bioloogia, polümeeride, komposiitide ja nano-skaala ühemõõtmeliste, kahemõõtmeliste ja kolmemõõtmeliste materjalide (sekundaarne elektronkujutis, tagasihajutatud elektronpilt). Seda saab kasutada mikropiirkonna punkti, joone ja pinnakomponentide analüüsimiseks. Seda kasutatakse laialdaselt nafta-, geoloogia-, mineraal-, elektroonika-, pooljuhtväljas, meditsiinis, bioloogia valdkonnas, keemiatööstuses, polümeermaterjalide valdkonnas, avaliku julgeoleku, põllumajanduse, metsanduse ja muude valdkondade kriminaaluurimine.
OPTO-EDU on Hiinast pärit mikroskoobi üks professionaalsemaid tarnijaid, keskendume mikroskoobi ja haridusvaldkonnas enam kui 20 aastaks. Alibaba populaarseima mikroskoobi müüjana on meil olemas igat tüüpi mikroskoobid, sealhulgas bioloogiline mikroskoop, stereomikroskoop, metallurgiline mikroskoop, tagurpidi mikroskoop, fluorestsentsmikroskoop, polariseeriv mikroskoop, faasikontrastmikroskoop, tumeda välja mikroskoop, mitme vaatega mikroskoop, DIC mikroskoop , AFM / STM / SPM mikroskoop, suumimikroskoop, pärlmikroskoop, digitaalne mikroskoop, LCD-mikroskoop, võrdlusmikroskoop, kohtuekspertiisimikroskoop ja igasugused mikroskoobi tarvikud. Meie klient on pärit enam kui 104 riigist, nagu Ameerika Ühendriigid, Suurbritannia, Venemaa, Kanada, Saksamaa, Taani, Poola, Rootsi, AÜE, Katar, Saudi Araabia, Egiptus, Mehhiko, Argentina, Tšiili, Brasiilia, Korea, Tai, India , Indoneesia, Filipiin ja nii edasi. Oleme teinud väsimatut tööd Hiina kena kvaliteediga toodangu tarnimiseks maailmaturule!
