A63.7081 Schottky väljaheitepüstoli skaneeriv elektronmikroskoop Pro FEG SEM, 15x ~ 800000x

A63.7081 Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope Pro FEG SEM, 15x~800000x Featured Image

Lühike kirjeldus:

15x ~ 800000x Schottky väljaheitepüstoli skaneeriv elektronmikroskoop
E-kiire kiirendus koos stabiilse kiirevooluga annab suurepärase pildi madalal pingel
Mittejuhtivuse proovi saab otseselt jälgida. Madalpinge korral pole seda vaja pihustada
Lihtne ja sõbralik tööliides, mida kõik kontrollivad hiir Windowsi süsteemis
Suur proovituba viie teljega eukentriline mootorlava suur, maksimaalne näidisdia. 320 mm
Minimaalne tellimiskogus:1

Toote detail

Toote sildid

A63.7081_01.jpg

Tootekirjeldus

A63.7081 Schottky väljalaskepüstol Skaneeriv elektronmikroskoop Pro FEG SEM
Resolutsioon		1 nm @ 30 kV (SE); 3nm @ 1KV (SE); 2.5nm@30KV (BSE)
Suurendus		15x ~ 800000x
Elektronpüstol		Schottky kiirgusega elektronpüstol
Elektronkiire vool		10pA ~ 0,3μA
Vootage'i kiirendamine		0 ~ 30KV
Vaakumsüsteem		2 ioonpumpa, turbomolekulaarne pump, mehaaniline pump
Detektor		SE: Kõrgvaakumiga sekundaarelektronidetektor (detektorikaitsega)
		BSE: pooljuhtide nelja segmendiga tagumise hajumise detektor
		CCD
Proovi etapp		Viie telje eukentriline mootorlava
Reisivahemik	X	0 ~ 150mm
	Y	0 ~ 150mm
	Z	0 ~ 60mm
	R	360º
	T	-5º ~ 75º
Proovi maksimaalne läbimõõt		320mm
Muutmine		EBL; STM; AFM; Kuumutusetapp; Krüo staadium; Tõmbetapp; Mikro-nano-manipulaator; SEM + kattemasin; SEM + Laser jne.
Aksessuaarid		Röntgendetektor (EDS), EBSD, CL, WDS, katmismasin jne

A63.7081_03.jpg

A63.7081_04.jpg

A63.7081_05.jpg

A63.7081_06.jpg

A63.7081_07.jpg

A63.7081_08.jpg

A63.7081_09.jpg

A63.7081_10.jpg

A63.7081_11.jpg

Eelis ja juhtumid

Skaneeriv elektronmikroskoopia (sem) sobib metallide, keraamika, pooljuhtide, mineraalide, bioloogia, polümeeride, komposiitide ja nano-skaala ühemõõtmeliste, kahemõõtmeliste ja kolmemõõtmeliste materjalide (sekundaarne elektronkujutis, tagasihajutatud elektronpilt). Seda saab kasutada mikropiirkonna punkti, joone ja pinnakomponentide analüüsimiseks. Seda kasutatakse laialdaselt nafta-, geoloogia-, mineraal-, elektroonika-, pooljuhtväljas, meditsiinis, bioloogia valdkonnas, keemiatööstuses, polümeermaterjalide valdkonnas, avaliku julgeoleku, põllumajanduse, metsanduse ja muude valdkondade kriminaaluurimine.